一.設計用途

設計用于(yu)對保護類(lei)、計量類(lei)CT/PT進行自動測試，適用于(yu)實驗(yan)室(shi)也適用于(yu)現(xian)場檢測。

二.參考標準

GB 1207-2006、GB 1208-2006

三.KDFA3000互感器伏安特性綜合測試儀主要特征

• 支(zhi)持檢測CT和PT

• 滿足 GB1207、GB1208等(deng)規(gui)程要求.

• 無需外接其(qi)它(ta)輔助設(she)備(bei)，單機即(ji)可完成所有檢(jian)測項目.

• 自(zi)帶微(wei)型快速(su)打(da)印(yin)機、可直接現場打(da)印(yin)測試結果.

• 操作簡便，帶有(you)智能提示，使用戶更(geng)易上(shang)手操作。

• 大屏幕液(ye)晶，圖形化顯示接口.

• 按(an)規程自動給出CT/PT（勵磁(ci)）拐點(dian)值.

• 自動給(gei)出(chu)5%和10%誤差曲(qu)線.

• 可保(bao)存3000組測試資料，掉(diao)電(dian)后(hou)不(bu)丟失(shi).

• 支持U盤轉(zhuan)存(cun)資(zi)料(liao)，可以(yi)通(tong)過標準(zhun)的PC進行讀取，并(bing)生成WORD報告.

• 小巧輕便≤22Kg，非常(chang)利于現場測試.

四、KDFA3000互感器伏安特性綜合測試儀主要測試(shi)功能(neng)：（見(jian)表1）

表1

五、主要技術參數：（見表2）

表2

5.1．工作(zuo)條件要求

輸入(ru)電壓 220Vac±10%、額定頻率 50Hz；

測試(shi)儀(yi)應該由(you)帶有保護接地的(de)電源插座供電。如果保護地的(de)連(lian)接有問題，或者電源沒有對地的(de)隔離連(lian)接，仍然可以(yi)使用測試(shi)儀(yi)，但是我們不(bu)保證安全(quan)；

參數對應的環境溫度是23℃±5℃；

保證值在出(chu)廠校驗后一(yi)年內有效。

六、硬件結構

6.1．面板結構(gou): （圖1）

圖1

6.2．面板注釋：

1 —— 設(she)備接(jie)地端子

2 ——U盤轉存口

3 ——打印機

4 ——液晶顯示器

5 ——控制器

6 ——過流保護（功率）開(kai)關

7 ——P1、P2：CT變比(bi)/極(ji)性試驗時，大(da)電流輸出端(duan)口

8 ——S1、S2：CT變比/極性(xing)試驗時，二次(ci)側接入端口

9 ——K1、K2：CT/PT勵磁（伏安(an)）特(te)性(xing)試驗時，電壓輸出(chu)端口(kou)

10 ——A、X ：PT變(bian)比/極性時，一(yi)次(ci)側接入端口

11 ——a、x ：PT變比(bi)/極性時(shi)，二(er)次側(ce)接入端(duan)口

12 ——D1、D2 ：CT/PT 二次直阻(zu)測試時，二次側接(jie)入端口（選配）

13 ——主機電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)

14 ——主機電源插座

15 、16、17、18、19、20——主要功能(neng)接(jie)線(xian)簡圖

七、操作方式(shi)及主界面介(jie)紹(shao)

7.1、控制(zhi)器使用方法(fa)

控(kong)制器有三種(zhong)操作(zuo)狀態：“左旋(xuan)"，“右旋(xuan)"，“按(an)下"。使用控(kong)制器的這三種(zhong)操作(zuo)可(ke)以方便的用來(lai)移(yi)動光標、輸(shu)入數據和選定項目(mu)等。

7.2、主菜單(dan) （見圖2）

開機之后(hou)默認進入CT測試，CT測試主菜單共有(you)“勵磁"、“負荷"、“直阻"、“變比極(ji)性"、“角差(cha)比差(cha)"、“交流耐壓(ya)"、“一次通(tong)流" 、“數據查詢"、“退磁" 、“PT"10種選項，可以使用旋轉(zhuan)控制器進行選擇(ze)和設置。如圖2所示(shi)，當(dang)“類型"后(hou)面為帶(dai)有(you)灰色背景的 CT 時，表示(shi)當(dang)前為CT測試。旋轉(zhuan)光標(biao)到“PT"并按下，則進入PT測試界面，如圖3。

PT測(ce)試主菜單共有“勵(li)磁(ci)"、“負荷"、“直(zhi)阻"、“變比(bi)極性"、“角差比(bi)差"、“交(jiao)流耐壓"、“數(shu)據查(cha)詢"、“退磁(ci)" 、“CT"9種(zhong)選項(xiang)，可(ke)以使(shi)用旋轉控制器進行選擇和設置。如圖3所示，當(dang)“類型"后面(mian)為帶有灰色背景的 PT 時表示當(dang)前為PT測(ce)試。旋轉光標(biao)到“CT"并按下，則(ze)進入CT測(ce)試界面(mian)，如圖2。

圖2， CT主界面                         圖3，PT主界面

八、CT測試

進(jin)行(xing)電流互感器測試時，請移(yi)動光標至CT，并選(xuan)擇(ze)相應測試選(xuan)項。

CT勵磁（伏安）特(te)性測試(shi)

在CT主(zhu)界面中(zhong)，選擇“勵(li)磁(ci)" 選項后(hou)，即進(jin)入測試界面如圖4。

（1）、參數設置：

勵磁電流(liu)(liu)：設(she)(she)置(zhi)范圍（0—20A）為(wei)儀器(qi)輸出的zui高設(she)(she)置(zhi)電流(liu)(liu)，如果(guo)實驗中電流(liu)(liu)達到(dao)設(she)(she)定值，將會自動停止升流(liu)(liu)，以免損壞設(she)(she)備。通常(chang)電流(liu)(liu)設(she)(she)置(zhi)值大于等于1A，就可(ke)以測試到(dao)拐點值。

勵(li)磁電(dian)(dian)壓(ya)：設置(zhi)范圍（0—1000V）為儀器輸出的zui高設置(zhi)電(dian)(dian)壓(ya)，通常電(dian)(dian)壓(ya)設置(zhi)值稍大于(yu)拐點電(dian)(dian)壓(ya)，這樣可以(yi)使(shi)曲線顯示的比例更加協(xie)調，電(dian)(dian)壓(ya)設置(zhi)過(guo)高，曲線貼近Y軸(zhou)，電(dian)(dian)壓(ya)設置(zhi)過(guo)低，曲線貼近X軸(zhou)。如果實(shi)驗(yan)中電(dian)(dian)壓(ya)達到(dao)設定值，將會自動停(ting)止(zhi)升壓(ya)，以(yi)免損壞設備。

（2）、試驗：

接線圖見（圖5），測試儀的(de)K1、K2為電壓輸(shu)出端，試驗時將K1、K2分別接互(hu)感器的(de)S1、S2（互(hu)感器的(de)所有(you)端子(zi)的(de)連線都應(ying)斷(duan)開）。檢查接線無誤(wu)后(hou)，合上功率開關，選(xuan)擇“開始(shi)(shi)"選(xuan)項，即開始(shi)(shi)測試。

試驗時，光(guang)標(biao)在“停(ting)止"選項上，并不停(ting)閃爍，測試儀開始自動升(sheng)壓、升(sheng)流，當(dang)測試儀檢測完畢后，試驗結束并描繪出伏安特性曲(qu)線圖（如圖6）。

注(zhu)意：圖4中“校(xiao)準"功能：主要用于查看設備輸出電壓(ya)電流值，不(bu)用于互感器(qi)功能測試，詳情見附(fu)錄一。

圖4，CT勵(li)磁特(te)性(xing)測試(shi)界(jie)面             圖5， CT勵(li)磁特(te)性(xing)接線圖

圖(tu)(tu)6，CT勵(li)磁曲線圖(tu)(tu)                     圖(tu)(tu)7，勵(li)磁數據(ju)圖(tu)(tu)

圖8 ，誤(wu)差(cha)曲線參數設置(zhi)界面                 圖9，誤(wu)差(cha)曲線圖

2）、伏安特性（勵磁）測試(shi)結果操作說明

試驗結束后，屏幕顯示出伏安特性測試曲線(xian)（見(jian)圖(tu)6）。該界面上各操作功能(neng)如下：

打(da)(da)    印：控制器選擇(ze)“打(da)(da)印"后，先后打(da)(da)印伏安特性（勵磁）曲線、數據，方便用戶做報告用。同時減少更換打(da)(da)印紙的頻率，節省時間，提高(gao)效率。

勵(li)磁數據(ju)：將(jiang)光標(biao)移動至“勵(li)磁數據(ju)"選項選定(ding)，屏幕(mu)上(shang)將(jiang)顯示伏(fu)安特(te)性試驗的(de)測試數據(ju)列(lie)表（見圖7）。按(an)下(xia)“退出(chu)"鍵即(ji)退回(hui)到(dao)伏(fu)安特(te)性試驗曲線界面(mian)，控制(zhi)器即(ji)可實現數據(ju)的(de)上(shang)下(xia)翻(fan)。當頁面(mian)翻(fan)轉不動時，則已到(dao)達zui后一(yi)頁。

保    存(cun)：控(kong)制器移(yi)動至“保存(cun)"選項，按(an)下(xia)即(ji)可將當前所測(ce)數據(ju)保存(cun)，保存(cun)成(cheng)(cheng)功后(hou)，屏幕上顯示“保存(cun)完畢"。成(cheng)(cheng)功保存(cun)后(hou)，用戶如果再按(an)下(xia)“保存(cun)"鍵(jian)，程序會自動分辨，不保存(cun)相同(tong)的測(ce)試記(ji)錄。并且可在數據(ju)查詢菜單中進行查看(kan)。

誤差(cha)(cha)曲線(xian)(xian)(xian)：在圖(tu)(tu)(tu)6的(de)界面中，將光標移(yi)至(zhi)“誤差(cha)(cha)曲線(xian)(xian)(xian)"選定后，屏(ping)上將顯示(shi)伏安特性試驗的(de)誤差(cha)(cha)曲線(xian)(xian)(xian)的(de)設置(zhi)（見圖(tu)(tu)(tu)8）。選定后計算出的(de)誤差(cha)(cha)曲線(xian)(xian)(xian)如圖(tu)(tu)(tu)9。

打印(yin)(yin)設(she)(she)(she)定：光(guang)標(biao)移動(dong)至此選項(xiang)，按下即進入打印(yin)(yin)設(she)(she)(she)置界(jie)面（圖10），可根據要求選擇“默認"（程序(xu)按照(zhao)一定步進打印(yin)(yin)大(da)量電(dian)壓電(dian)流值），或(huo)選擇“自設(she)(she)(she)定"（程序(xu)會(hui)按照(zhao)表格中的10個(ge)電(dian)流值進行打印(yin)(yin)）。

以下四項為(wei)誤差曲線計(ji)算(suan)時的設置項：

額定負(fu)荷(he) ：CT二次側額定負(fu)荷(he)。

額定(ding)二次 ：CT的(de)二次側額定(ding)電流(liu)

ALF ：準確限值系數(shu)，如：被測CT銘牌為“5P10"，“10"即為限制(zhi)系數(shu)。

5% ：自動計算出5%誤差曲(qu)線數據并顯示誤差曲(qu)線。

10% ：自動計算出(chu)10%誤(wu)差(cha)曲線數據并顯(xian)示誤(wu)差(cha)曲線。

誤差曲線界面中有三個選項(xiang)：

打(da)印 ：可打(da)印出誤(wu)差曲線圖及(ji)數(shu)據；

數(shu)據 ：可顯示出誤差曲線(xian)相關數(shu)據，查看(kan)方式同伏安特(te)性(xing)數(shu)據。

退出 ：可(ke)返回上一層(ceng)菜(cai)單。

圖10，打印設(she)置(zhi)界面(mian)                 圖11，退磁界面(mian)

2、退磁試驗

1）參數設置：

在CT主界面中，選擇“退磁"后(hou)，進(jin)入測試界面見圖11，設置(zhi) 二次(ci)側額(e)定(ding)電(dian)流： 1A或5A。

2）試驗：

接線(xian)圖見（圖5），測(ce)試儀的(de)(de)K1、K2為電壓(ya)輸(shu)出(chu)端，試驗時將K1、K2分別接互感器的(de)(de)S1、S2（互感器的(de)(de)所有端子的(de)(de)連線(xian)都應(ying)斷開(kai)(kai)）。檢查(cha)接線(xian)無誤后，合(he)上功率開(kai)(kai)關(guan)，選擇“開(kai)(kai)始"選項(xiang)，即開(kai)(kai)始退磁。

退(tui)磁過(guo)程中(zhong)光標(biao)在“開始(shi)"選項(xiang)上不停(ting)閃爍，直至試驗完畢(bi)(bi)，裝置會自動停(ting)止，界(jie)面(mian)提示“退(tui)磁完畢(bi)(bi)"。

3、CT變比極性(xing)試驗

1）參數設置：

在CT主界(jie)面中，選(xuan)擇“變比極(ji)性"后，進入測(ce)(ce)試(shi)(shi)界(jie)面見圖12，設置(zhi)一次側測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)流： 0 ～600A，測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀P1、P2端子(zi)輸出(chu)的zui大電(dian)流；

二次側(ce)額(e)定(ding)電流： 1A或5A。

2）試驗：

接線圖(tu)見(jian)圖(tu)13，CT一次側(ce)接P1、P2，CT二(er)次側(ce)接S1、S2，不檢測的二(er)次繞組(zu)要(yao)短(duan)接，設(she)置(zhi)二(er)次側(ce)額定電流及編號(hao)后(hou)，合上功率開(kai)關，選擇“開(kai)始"選項，按下控制(zhi)器，試驗即開(kai)始。

試(shi)驗(yan)(yan)過程中光標在“開(kai)始(shi)"選項上不停閃爍(shuo)，直(zhi)至試(shi)驗(yan)(yan)完(wan)(wan)畢(bi)退出自動測試(shi)界面，或按下(xia)控制器人為(wei)中止試(shi)驗(yan)(yan)，裝置測試(shi)完(wan)(wan)畢(bi)后(hou)會(hui)自動停止試(shi)驗(yan)(yan)，試(shi)驗(yan)(yan)完(wan)(wan)成(cheng)后(hou)，即顯示變(bian)比極(ji)性(xing)測試(shi)結果。可以選擇(ze) “保存" 、“打印"及“退出"選項進行下(xia)一步操作。

儀器本身的(de)(de)同色端子(zi)為(wei)同相端，即P1接CT的(de)(de)P1，S1接CT的(de)(de)S1時，極(ji)性的(de)(de)測試結果為(wei)減極(ji)性。

圖(tu)12，CT變比(bi)極性(xing)測(ce)試界面         圖(tu)13，CT變比(bi)極性(xing)（角差(cha)比(bi)差(cha)）接線圖(tu)

4、CT角(jiao)差(cha)比差(cha)試驗

1）參數設置：

在(zai)CT主界(jie)面(mian)中，選擇“角差比(bi)差"后，進入(ru)測(ce)試界(jie)面(mian)（圖14），（注(zhu)：應參照互感(gan)器銘牌上(shang)的實際(ji)額定(ding)變比(bi)值設定(ding)）

額(e)定(ding)一次(ci)(ci)：CT的(de)一次(ci)(ci)額(e)定(ding)電流：0～25000A

額定二(er)次： 5A/1A。

額定負荷：互(hu)感器(qi)容量。

實際負荷：根據額定負載(zai)(zai)的(de)設定，可自動計(ji)算滿載(zai)(zai)與輕載(zai)(zai)兩種狀態值（輕載(zai)(zai)為滿載(zai)(zai)的(de)25％）。

2）試驗：

接線圖(tu)見圖(tu)13，CT一(yi)次側接P1、P2，CT二(er)次側接S1、S2。設置參數并檢(jian)查接線無(wu)誤后，合(he)上功率開關，選擇“開始(shi)"選項，按下控(kong)制器，試驗即開始(shi)。

試(shi)驗(yan)過程中通過按下(xia)(xia)控制(zhi)器可終止試(shi)驗(yan)，測試(shi)完畢后自動(dong)計算出一次側(ce)與二次側(ce)的(de)相(xiang)位(wei)角(jiao)差(cha)，實(shi)際測的(de)變比(bi)(bi)值與用(yong)戶設定(ding)的(de)額定(ding)變比(bi)(bi)的(de)百分比(bi)(bi)差(cha)（圖15）。可以選擇 “保(bao)存(cun)" 、“打印"及“退出"選項(xiang)進行下(xia)(xia)一步操作(zuo)。

圖14 ，CT角(jiao)差(cha)比差(cha)測試(shi)界面(mian)         圖15，CT角(jiao)差(cha)比差(cha)測試(shi)結果界面(mian)

5、CT一次(ci)通流試(shi)驗

1）參數設置：

在CT主界面(mian)(mian)中，選擇“一次通流(liu)"后，進入測(ce)試(shi)界面(mian)(mian)（圖(tu)16），設置好設定(ding)電流(liu)值(zhi)：0～600A。

2）試驗：

接(jie)線圖(tu)見圖(tu)17，CT一次側接(jie)P1、P2，CT二次側接(jie)二次負載。設(she)置好通(tong)流(liu)電流(liu)后，合上功率開(kai)(kai)關，旋轉控制器將光(guang)標(biao)移動至“開(kai)(kai)始"選(xuan)項，按下控制器，試驗即開(kai)(kai)始，電流(liu)保(bao)持(chi)時間以(yi)進度條顯示(shi)(0～200A:保(bao)持(chi)10分(fen)鐘(zhong)；大于(yu)(yu)200A～300A：保(bao)持(chi)2分(fen)鐘(zhong);大于(yu)(yu)300A：保(bao)持(chi)3秒(miao)鐘(zhong))。

圖(tu)16、CT一(yi)次通(tong)流測試界(jie)面             圖(tu)17、CT一(yi)次通(tong)流接線(xian)圖(tu)

CT交流耐壓試驗

1）參數設置：

在CT主界面中，選擇“交流耐壓"后，進入測(ce)試界面（圖18），設置(zhi)好設定電(dian)壓值：0～1000V。

2）實驗：

接(jie)(jie)線圖(tu)見圖(tu)19，被(bei)測(ce)(ce)CT二(er)次側短接(jie)(jie)與(yu)測(ce)(ce)試儀電壓(ya)輸出口(kou)K2連接(jie)(jie)，電壓(ya)輸出口(kou)另(ling)一(yi)端K1連接(jie)(jie)互(hu)感器外殼(ke)。檢(jian)查接(jie)(jie)線完(wan)成(cheng)后，合上功率(lv)開關，選擇 “開始"選項，按下即開始升(sheng)壓(ya)，電壓(ya)保持(chi)時間(jian)(jian)默認為(wei)1分鐘，測(ce)(ce)試過程中，儀器內部對(dui)互(hu)感器二(er)次繞組與(yu)外殼(ke)之間(jian)(jian)的漏(lou)電流(liu)實時檢(jian)測(ce)(ce)，如果發現電流(liu)迅速增加，將會自動回(hui)零，頁面會顯示“不合格"。

圖(tu)18，CT交(jiao)流耐(nai)壓(ya)測試界面           圖(tu)19，CT交(jiao)流耐(nai)壓(ya)接線圖(tu)

7、CT負荷試驗

參數設置：

在CT測試主界面中，選擇進入“負荷"試驗界面（如圖20），設(she)置二次側額定電(dian)流： 1A或5A。

線電(dian)阻：只在測(ce)試負載箱(xiang)時使用（按照(zhao)負載箱(xiang)銘(ming)牌設定）

試驗：

測(ce)試(shi)儀的(de)K1、K2為電(dian)壓(ya)輸(shu)出端，參照圖(tu)21進行接(jie)線，將(jiang)被(bei)測(ce)負荷（負載）接(jie)測(ce)試(shi)儀的(de)K1、K2端，檢查接(jie)線無誤后(hou)，選擇“開(kai)始"即(ji)開(kai)始試(shi)驗，試(shi)驗完成后(hou)，即(ji)顯示負荷性測(ce)試(shi)結(jie)果，可(ke)以選擇 “保(bao)存" 、“打印"及“退出"選項(xiang)進行下一(yi)步操作。

圖(tu)20，CT二次負(fu)荷測試(shi)界面        圖(tu)21，CT二次負(fu)荷接線(xian)圖(tu)

8、直阻測試：

1）、校零：

在CT測(ce)試主界面中(zhong)(zhong)，選(xuan)(xuan)擇進(jin)入“直(zhi)阻"試驗界面（如圖22），試驗前應先對(dui)測(ce)試用導線(xian)(xian)進(jin)行校(xiao)(xiao)(xiao)零(ling)(ling)(ling)，在CT主界面顯示菜單上通過控制(zhi)器選(xuan)(xuan)中(zhong)(zhong) 直(zhi)阻測(ce)試項，進(jin)入直(zhi)阻測(ce)試界面并選(xuan)(xuan)擇“校(xiao)(xiao)(xiao)零(ling)(ling)(ling)", 校(xiao)(xiao)(xiao)零(ling)(ling)(ling)前將(jiang)測(ce)試導線(xian)(xian)的線(xian)(xian)夾(jia)對(dui)接（測(ce)試線(xian)(xian)短接）（圖23），然后進(jin)行校(xiao)(xiao)(xiao)零(ling)(ling)(ling)，校(xiao)(xiao)(xiao)零(ling)(ling)(ling)完成后，界面提示“校(xiao)(xiao)(xiao)零(ling)(ling)(ling)完畢"。

2）、試驗：

校零結(jie)束后(hou)，參照(zhao)圖24接好測(ce)(ce)試(shi)線，測(ce)(ce)試(shi)儀的D1、D2接被測(ce)(ce)繞組(zu)，選(xuan)中 “開始" 鍵即開始測(ce)(ce)試(shi)，試(shi)驗完成后(hou)，即顯示直阻測(ce)(ce)試(shi)結(jie)果(guo)，可以選(xuan)擇(ze) “保(bao)存" 、“打印"及(ji)“退出"選(xuan)項進(jin)行下(xia)一(yi)步(bu)操作。

圖(tu)22，直阻測試界面(mian)                圖(tu)23，導線阻值清零接線圖(tu)

圖24，直阻測試接線圖

9.PT測試

進行電壓互感(gan)器功能測試(shi)時，請移(yi)動光標(biao)至PT，并選擇相應測試(shi)選項。

1、PT勵(li)磁特性(xing)測試

1)、參數設置

在(zai)PT測(ce)試主界面(mian)中，選擇進入“勵磁(ci)"試驗界面(mian)（如圖(tu)25），勵磁(ci)電(dian)流(liu)（0～20A）：輸(shu)出電(dian)流(liu)為儀器(qi)輸(shu)出的zui高設置電(dian)流(liu)，如果試驗中電(dian)流(liu)達到設定值(zhi)，將會自動停(ting)止(zhi)升流(liu)。通(tong)常1A即可測(ce)試出拐點(dian)值(zhi)。

勵磁電(dian)壓：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗：

參照(zhao)圖26接(jie)線，測試儀(yi)的(de)為電壓輸(shu)出端，試驗時將K1、K2分(fen)別接(jie)互感(gan)器的(de)a、x ，電壓互感(gan)器的(de)一(yi)次(ci)繞組的(de)零位(wei)端接(jie)地。檢查接(jie)線無誤后(hou)，合上功率開關，選項“開始(shi)" 選項后(hou)，即開始(shi)測試。

試(shi)驗時，光標在“開始"選(xuan)項(xiang)上，并(bing)不(bu)停閃爍，測試(shi)儀(yi)(yi)開始自動(dong)升壓、升流，當測試(shi)儀(yi)(yi)檢測完畢后(hou)，試(shi)驗結束(shu)并(bing)描繪出伏(fu)安(an)特性曲線圖。

圖(tu)25，PT勵磁特性參數設置界面            圖(tu)26，PT勵磁特性接(jie)線圖(tu)

3）、PT（勵(li)磁）測試結果(guo)操(cao)作說明

請(qing)參考8頁CT測試(shi)結(jie)果說(shuo)明

PT退磁試驗

圖27，PT退磁界(jie)面

1)、參數設置

在(zai)PT測試主界面中，選擇進入(ru)“退磁"試驗界面（如圖27），設置額定二(er)次電壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗：

參照(zhao)圖26接線，測試儀的(de)為(wei)電(dian)壓輸出端，試驗時將K1、K2分別(bie)接互感器的(de)a、x ，電(dian)壓互感器的(de)一次繞(rao)組的(de)零位端接地。檢查接線無誤后，合上功率開(kai)關(guan)，選(xuan)項(xiang)“開(kai)始" 選(xuan)項(xiang)后，即開(kai)始退磁。

退(tui)磁(ci)(ci)(ci)過程(cheng)中時，光標在“開始"選項上(shang)，并不停閃(shan)爍(shuo)，當測試儀檢測完畢后，，裝置退(tui)磁(ci)(ci)(ci)會自動停止(zhi)，界面(mian)提示(shi)“退(tui)磁(ci)(ci)(ci)完畢"。

3、PT變比極(ji)性試驗

1）參數設置(zhi)：測(ce)試界(jie)面見圖28。

一次：0～1000V。

二次：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）開始試驗：

參照圖29進行(xing)接(jie)(jie)線，PT一次(ci)(ci)側接(jie)(jie)A、X，PT二次(ci)(ci)側接(jie)(jie)a、x。設(she)置二次(ci)(ci)側額定電壓及編號后，合上功率開關，選擇 “開始(shi)"選項，按(an)下控制器，試驗即開始(shi)。

試(shi)驗過程中光標在“開(kai)始(shi)"選(xuan)項上不停閃(shan)爍，直至試(shi)驗完(wan)畢退出測試(shi)界面，或按下控(kong)制(zhi)器人為中止試(shi)驗，試(shi)驗完(wan)成后，即顯示變(bian)比極性(xing)測試(shi)結(jie)果(guo)。可以選(xuan)擇 “保存" 、“打印"及“退出"選(xuan)項進行下一步操作。

儀(yi)器本(ben)身的(de)(de)同色(se)端(duan)子為同相端(duan)，即(ji)A接(jie)PT的(de)(de)A，X接(jie)PT的(de)(de)X時，極性的(de)(de)測(ce)試結果為減極性。

圖28，PT變比極性(xing)測試界面     圖29，PT變比極性(xing)（角(jiao)差比差）接線(xian)圖

4、PT角差比差試驗

1）參數設置：

在(zai)PT測(ce)試主界面(mian)中，選(xuan)擇進入“角(jiao)差(cha)比差(cha)"試驗界面(mian)（如圖30），（注(zhu)：應參照互(hu)感器銘牌上的實際額定(ding)變比值設定(ding)）

額定一(yi)次： 3～500KV

額定二次： 100V、100/√3、100/3、150V、220V

額(e)定負荷：互感器容量。

實際負荷：根據(ju)額定(ding)負載(zai)(zai)的設(she)定(ding)，可自動計算滿載(zai)(zai)與輕載(zai)(zai)兩種狀態值（輕載(zai)(zai)為滿載(zai)(zai)的25％）。

2）試驗：

參(can)照圖29進行(xing)接(jie)線(xian)，PT一次(ci)側接(jie)A、X，CT二次(ci)側接(jie)a、x。設置參(can)數后，旋(xuan)轉控制(zhi)器將光標移動至(zhi)“開始"選(xuan)項，按下(xia)控制(zhi)器，試驗即開始。

試(shi)驗(yan)過程中通(tong)過按下控制器(qi)可(ke)(ke)終止試(shi)驗(yan)，測(ce)試(shi)完畢后自動計(ji)算(suan)出(chu)一次(ci)側與(yu)二次(ci)側的(de)相位角差(cha)，實際測(ce)的(de)變比值與(yu)用戶設(she)定(ding)的(de)額定(ding)變比的(de)百分比差(cha)（圖31）。按下 “打(da)印"即可(ke)(ke)打(da)印出(chu)測(ce)試(shi)結(jie)果， “保存"即可(ke)(ke)保存測(ce)試(shi)結(jie)果， “退出(chu)"可(ke)(ke)返回至參(can)數設(she)置菜單。如(ru)果顯示均為9，則說明(ming)誤差(cha)超出(chu)顯示范(fan)圍，請檢查設(she)定(ding)值。

圖30 ，PT角差比差測(ce)試(shi)界面  ;     圖31，PT角差比差測(ce)試(shi)結果界面

5、PT交流耐壓(ya)試(shi)驗

1）.參數設置：

在PT測試主界面中，選擇進入“交流耐壓(ya)"試驗界面（如(ru)圖32），設置好設定電壓(ya)值：0～1000V。

2）.實驗：

參照圖(tu)33接(jie)線，被測(ce)PT二(er)次側短(duan)接(jie)與測(ce)試(shi)儀(yi)電(dian)壓輸出(chu)(chu)口K2連(lian)接(jie)，電(dian)壓輸出(chu)(chu)口另一端(duan)K1連(lian)接(jie)互(hu)(hu)感器(qi)外殼(ke)。檢查接(jie)線完成后，合上(shang)功率開關(guan)，選(xuan)擇 “開始"選(xuan)項，按下即開始升壓，電(dian)壓保持時間默認為1分鐘，測(ce)試(shi)過程中，儀(yi)器(qi)內部(bu)對互(hu)(hu)感器(qi)二(er)次繞組與外殼(ke)之間的漏(lou)電(dian)流實時檢測(ce)，如果發(fa)現電(dian)流迅速(su)增加，將會自動回零，頁面會顯示測(ce)試(shi)異常(chang)。

圖32，PT交(jiao)流耐壓測試(shi)界面              圖33，PT交(jiao)流耐壓接線圖

6、PT負荷試驗

1）.參數設置：

在(zai)PT測試主(zhu)界(jie)面中(zhong)，選擇進(jin)入“負荷(he)"試驗界(jie)面（如(ru)圖34），設置額定二次電壓(ya)值(zhi)：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）.試驗：

測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)的(de)K1、K2為電(dian)壓(ya)輸出(chu)端(duan)(duan)，參照圖35進行(xing)接(jie)線，將被測(ce)負(fu)(fu)荷（負(fu)(fu)載）接(jie)測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)的(de)K1、K2端(duan)(duan)，檢查接(jie)線無誤后(hou)，合上功(gong)率開(kai)(kai)關，選(xuan)擇“開(kai)(kai)始"即開(kai)(kai)始試(shi)(shi)驗，試(shi)(shi)驗完成后(hou)，即顯示負(fu)(fu)荷性測(ce)試(shi)(shi)結果，可以選(xuan)擇 “保存(cun)" 、“打印"及“退(tui)出(chu)"選(xuan)項進行(xing)下一(yi)步(bu)操作。

圖(tu)34，PT二次(ci)負(fu)荷測(ce)試界面            圖(tu)35，PT二次(ci)負(fu)荷接線圖(tu)

7、直阻測試：

請參照第14頁CT直(zhi)阻(zu)測(ce)試(shi)。

十.數據查詢

在CT/PT測(ce)(ce)試(shi)(shi)主界面(mian)中(zhong)，選(xuan)擇進入“數據查詢"試(shi)(shi)驗界面(mian)（如(ru)圖(tu)36），根據需要(yao)選(xuan)擇“勵磁"、“負荷"、“直阻"、“變比極(ji)性"、“角差比差"、“退(tui)出(chu)"等測(ce)(ce)試(shi)(shi)選(xuan)項，選(xuan)定測(ce)(ce)試(shi)(shi)項目后(hou)，進入圖(tu)39測(ce)(ce)試(shi)(shi)界面(mian)，顯(xian)示儀(yi)器中(zhong)該項目下(xia)所(suo)保存的(de)的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果，可以(yi)選(xuan)擇 “上(shang)頁" 、“下(xia)頁"、“轉存"、“退(tui)出(chu)"、“清除"選(xuan)項進行相應操作。

轉(zhuan)存(cun)時，插(cha)上(shang)U盤至測試(shi)儀通訊口“USB"，在圖37中，點擊“轉(zhuan)存(cun)"則會將(jiang)當(dang)前頁面下(xia)所顯示(shi)的測試(shi)記錄轉(zhuan)存(cun)進入(ru)U盤之中。每條記錄所用時間約2秒鐘，轉(zhuan)存(cun)結束后(hou)，界面提示(shi)“轉(zhuan)存(cun)完畢"。

圖36                                 圖37

十一(yi).PC機(ji)操作軟件使(shi)用說明

將配套光(guang)盤放(fang)入計算機光(guang)驅中，解(jie)壓(ya)“軟件"至C盤根(gen)目(mu)錄(lu)。

11.2首先，安(an)裝“wic_x86_chs.exe"文件(jian)，其次，安(an)裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe"軟件(jian)，默認安(an)裝地址即可(ke)。

11.3安裝完(wan)畢后(hou)，打開(kai)“伏安特性(xing)"文件(jian)夾，選擇打開(kai)“VATeXing.exe"操(cao)作軟件(jian)，如圖(tu)38即為上位機操(cao)作軟件(jian)。

11.4在“VATeXing.exe"操作軟件中(zhong)，下方選擇互感(gan)器種(zhong)類“CT"或“PT"，應用語言(yan)“中(zhong)文"或“英文"。

11.5如需生(sheng)成報告(gao)格式(shi)文(wen)件，必須(xu)載入(ru)試驗結果數據，具體操作(zuo)方法如下：

a）、將存儲試驗數據(ju)的U盤連接至計算機。

b）、在圖38中選(xuan)擇打開“選(xuan)擇文(wen)件"，出現圖39操(cao)作(zuo)窗口，在圖39中可根據需要載入(ru)所需文(wen)件。

c）、試驗結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)說明：以(yi)(yi)“A"為(wei)(wei)(wei)開(kai)(kai)(kai)頭(tou)(tou)的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)勵磁特性結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)，以(yi)(yi)“B"為(wei)(wei)(wei)開(kai)(kai)(kai)頭(tou)(tou)的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)變比極性結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)，以(yi)(yi)“C"為(wei)(wei)(wei)開(kai)(kai)(kai)頭(tou)(tou)的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)負(fu)荷結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)，以(yi)(yi)“D"為(wei)(wei)(wei)開(kai)(kai)(kai)頭(tou)(tou)的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)直阻(zu)結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)。以(yi)(yi)“E"為(wei)(wei)(wei)開(kai)(kai)(kai)頭(tou)(tou)的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)角差比差結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)，以(yi)(yi)“T"為(wei)(wei)(wei)開(kai)(kai)(kai)頭(tou)(tou)的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)為(wei)(wei)(wei)暫態結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)。

11.6 載(zai)入數(shu)(shu)據結(jie)束(shu)后(hou)，選擇“確定(ding)"出現圖(tu)40界面(mian)，在此界面(mian)右上方設置相(xiang)應參(can)數(shu)(shu)后(hou)，選擇“生成(cheng)誤(wu)差(cha)曲線"則完(wan)成(cheng)所(suo)有試驗(yan)結(jie)果的載(zai)入。

11.7 載入全部完成后，可根據(ju)需(xu)要選擇“保存"或(huo)打印結果數據(ju)。

11.8  選(xuan)擇“保(bao)存"選(xuan)項(xiang)，則以WORD的形式顯示結果(guo)如圖41。

11.9  如需繼(ji)續(xu)加(jia)載試驗結(jie)果數據，請先(xian)清除上次載入(ru)的數據。

圖38

圖39

圖40

圖41

附  錄

附錄一、 “校準"測(ce)試方法（以CT為例(li)）

圖42，校準測(ce)試主界(jie)面               圖43，電壓校準接線圖

圖44，電流校準(zhun)接(jie)線(xian)圖

1）參數設置：

進入(ru)CT“勵(li)(li)磁"測(ce)試界面后，選擇進入(ru)“校準"試驗界面（如圖42），設定好(hao)勵(li)(li)磁電流值(zhi)：0.1A ～ 5A;勵(li)(li)磁電壓值(zhi)：1V～1000V。

2）開始：

電(dian)(dian)壓(ya)校準試(shi)驗參照圖(tu)43進行接(jie)線；設置好被測(ce)電(dian)(dian)壓(ya)后，合上功率開(kai)關，選(xuan)擇 “開(kai)始"選(xuan)項(xiang)，按(an)下(xia)控制器，試(shi)驗即開(kai)始，試(shi)驗到達設定值后將保持輸出電(dian)(dian)壓(ya)/電(dian)(dian)流值用(yong)于檢測(ce)，檢測(ce)完畢(bi)后，按(an)下(xia)控制器，試(shi)驗返回圖(tu)42界面(mian)。

電(dian)(dian)流校準試驗(yan)參照圖(tu)44進行接線，電(dian)(dian)壓設(she)定(ding)值(zhi)(zhi)略高于【電(dian)(dian)流設(she)定(ding)值(zhi)(zhi)（A）*負(fu)載（Ω）】，設(she)置好被測(ce)電(dian)(dian)流/電(dian)(dian)壓值(zhi)(zhi)后，合(he)上功(gong)率(lv)開(kai)關，選擇 “開(kai)始"選項，按下(xia)控制(zhi)器，試驗(yan)即開(kai)始，試驗(yan)到達設(she)定(ding)值(zhi)(zhi)后將保持(chi)輸出(chu)電(dian)(dian)流/電(dian)(dian)壓值(zhi)(zhi)用于檢(jian)測(ce)，檢(jian)測(ce)完畢后，按下(xia)控制(zhi)器，試驗(yan)返回圖(tu)42界面(mian)。

附錄二、售后服務承諾 ，本產品保修一年，終身維護。
附錄(lu)三、誤差曲線說(shuo)明

根據互感器二次(ci)側的勵磁電流和電壓計算出的電流倍數（M）與允許二次(ci)負荷（ZII）之間(jian)的5%、10%誤差曲線(xian)的數據中也可判斷互感器保護繞組(zu)是否(fou)合格：

1）在(zai)接近理(li)論(lun)電流倍數下所(suo)測量的(de)實際負荷(he)大(da)于互感器銘(ming)牌上理(li)論(lun)負荷(he)值，說明該互感器合格(ge)如圖(tu)45數據說明；

2）在接近理論負荷下所測量的(de)(de)實際電(dian)流倍(bei)(bei)數大(da)于互感(gan)器銘牌上的(de)(de)理論電(dian)流倍(bei)(bei)數,也說(shuo)明該互感(gan)器合格如圖45數據(ju)說(shuo)明；

保護用(yong)電(dian)(dian)流互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)應滿足5%誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)要求，只要電(dian)(dian)流互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)二次(ci)(ci)(ci)(ci)實際負(fu)荷(he)(he)小(xiao)于(yu)5%誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)允許(xu)(xu)的(de)(de)(de)負(fu)荷(he)(he)，在(zai)額(e)定電(dian)(dian)流倍(bei)(bei)數(shu)下(xia)，合(he)格的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)測(ce)量誤差(cha)即(ji)在(zai)5%以內。二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)越(yue)大，電(dian)(dian)流互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)鐵心就越(yue)容易飽和，所(suo)允許(xu)(xu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流倍(bei)(bei)數(shu)就越(yue)小(xiao)。因此，5%誤差(cha)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)即(ji)n/ZL曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)為(wei)(wei)(wei)圖9所(suo)示曲(qu)(qu)(qu)線(xian)(xian)。在(zai)圖45中例所(suo)示（所(suo)測(ce)保護用(yong)CT為(wei)(wei)(wei)5P10 20VA）：其中5為(wei)(wei)(wei)準確級（誤差(cha)極限為(wei)(wei)(wei)5％），P為(wei)(wei)(wei)互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)形式(shi)（保護級），10為(wei)(wei)(wei)準確限值系(xi)數(shu)（10倍(bei)(bei)的(de)(de)(de)額(e)定電(dian)(dian)流），20VA表示額(e)定二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)（容量）。電(dian)(dian)流倍(bei)(bei)數(shu)為(wei)(wei)(wei)10.27倍(bei)(bei)（接近(jin)10倍(bei)(bei)）時，所(suo)允許(xu)(xu)的(de)(de)(de)二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)為(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大于(yu)該(gai)(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)額(e)定負(fu)荷(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通過該(gai)(gai)(gai)數(shu)據(ju)(ju)(ju)可(ke)(ke)判(pan)斷(duan)該(gai)(gai)(gai)互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)合(he)格。另(ling)外，在(zai)二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)為(wei)(wei)(wei)19.58Ω(接近(jin)20Ω) 所(suo)允許(xu)(xu)的(de)(de)(de)二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)為(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大于(yu)該(gai)(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)額(e)定負(fu)荷(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通過該(gai)(gai)(gai)數(shu)據(ju)(ju)(ju)可(ke)(ke)判(pan)斷(duan)該(gai)(gai)(gai)互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)合(he)格。另(ling)外，在(zai)二次(ci)(ci)(ci)(ci)負(fu)荷(he)(he)為(wei)(wei)(wei)19.58Ω(接近(jin)20Ω)時，所(suo)允許(xu)(xu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)流倍(bei)(bei)數(shu)為(wei)(wei)(wei)12.85倍(bei)(bei)，大于(yu)該(gai)(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)額(e)定電(dian)(dian)流倍(bei)(bei)數(shu)（10倍(bei)(bei)），通過該(gai)(gai)(gai)數(shu)據(ju)(ju)(ju)也可(ke)(ke)判(pan)斷(duan)該(gai)(gai)(gai)互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)合(he)格。其實，只要找出這兩個(ge)關鍵點(dian)中的(de)(de)(de)任意一個(ge)，即(ji)可(ke)(ke)判(pan)斷(duan)所(suo)測(ce)互(hu)(hu)(hu)感(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)是否(fou)合(he)格。

如果10％誤差不符合要求(qiu)一般的做(zuo)法有(you)：

增大二次電纜界(jie)面積（減(jian)少二次阻抗(kang)）

串(chuan)接同型(xing)同變比電流互感(gan)器(qi)（減少互感(gan)器(qi)勵磁電流）

改用(yong)伏(fu)安特性較高的(de)繞組（勵(li)磁阻抗增大）

提高電流(liu)互感器(qi)變(bian)比（增大勵磁阻抗）

圖45

誤差曲線計算公式：

M =（I*P）/N      ;             ZII =（U-（I*Z2））/(K*I)

I 電流                         U 電壓

N=1  (1A 額定電(dian)(dian)流(liu))      ;       I 電(dian)(dian)流(liu)

N=5  (5A 額定電流)             Z2 CT二次(ci)側(ce)阻抗(kang)

P=20 （5％誤差曲線(xian) ）          K=19（5％誤差曲線(xian).1A 5A 額定電流）

P=10 （10％誤差曲(qu)線(xian) ）         K=9 （10％誤差曲(qu)線(xian).1A 5A 額定電流）

附錄四、時間設(she)置說明

開(kai)機(ji)前先按(an)下(xia)(xia)旋(xuan)轉控(kong)制(zhi)(zhi)器不要(yao)松(song)(song)開(kai)，打(da)開(kai)電源，當進(jin)度條進(jin)完后(hou)停3秒之后(hou)，松(song)(song)開(kai)旋(xuan)轉控(kong)制(zhi)(zhi)器，此時(shi)(shi)可(ke)看到(dao)如圖46的界(jie)面，此時(shi)(shi)旋(xuan)轉“控(kong)制(zhi)(zhi)器"把前兩個99設(she)(she)置(zhi)(zhi)為(wei)01，按(an)下(xia)(xia)“控(kong)制(zhi)(zhi)器"。光(guang)標(biao)移動到(dao)后(hou)兩位(wei)的99，再(zai)次旋(xuan)轉“控(kong)制(zhi)(zhi)器"，把后(hou)兩位(wei)也設(she)(she)置(zhi)(zhi)為(wei)01，按(an)下(xia)(xia)“控(kong)制(zhi)(zhi)器"。此時(shi)(shi)可(ke)進(jin)入到(dao)界(jie)面47，在此界(jie)面中(zhong)可(ke)設(she)(she)置(zhi)(zhi)時(shi)(shi)間，設(she)(she)置(zhi)(zhi)方式是先按(an)下(xia)(xia)控(kong)制(zhi)(zhi)器，再(zai)旋(xuan)轉設(she)(she)置(zhi)(zhi)數字，設(she)(she)置(zhi)(zhi)完畢(bi)后(hou)再(zai)次按(an)下(xia)(xia)控(kong)制(zhi)(zhi)器表示(shi)確(que)認，光(guang)標(biao)會進(jin)入到(dao)下(xia)(xia)個選項。

圖46                                圖47

附錄(lu)五(wu)、智能提示說明

在做各(ge)種測(ce)試(shi)時，新上手的用(yong)(yong)戶可能(neng)會(hui)對接線及操作不熟(shu)練，導致實(shi)驗數據出現錯誤(wu)的結果(guo)。在這種情況下，會(hui)讓您無所適(shi)從，基于(yu)此我們(men)加上了一些簡單(dan)的智能(neng)提示(shi)，使新用(yong)(yong)戶更易上手，使老用(yong)(yong)戶減少誤(wu)操作。

如圖(tu)(tu)48到圖(tu)(tu)51，舉例說明了伏安(an)特性與變(bian)比(bi)極性測試(shi)時易出(chu)現的一些(xie)問(wen)題(ti)。

伏安特性測試時空(kong)開(kai)（功率開(kai)關）忘(wang)記打開(kai)的提示。

伏安(an)特(te)性測(ce)試(shi)時接(jie)線錯誤(wu)的(de)提示(shi)。（CT的(de)二次繞組應接(jie)在K1/K2,有時用戶會誤(wu)接(jie)在S1/S2）。

變比極(ji)性測試時空開忘記打(da)開或者一次電流線沒有接上。

變比極性(xing)測試時CT二次的接線沒有接對。

圖(tu)48                                圖(tu)49

圖50                                  圖51