康登電氣智(zhi)能絕(jue)緣(yuan)電阻測試(shi)儀操作(zuo)方法

試驗前請接好測試線  測量接線(xian)圖,高(gao)壓(ya)帶有(you)屏蔽(bi)線的插(cha)頭分別插(cha)入高(gao)壓(ya)L端和G端，屏蔽(bi)線不可(ke)懸空不插(cha)入！ 

                         ;       圖A

                                圖B

常規(gui)測試(shi)測量電(dian)氣產品的元(yuan)件之間絕緣電(dian)阻耐壓時，可將(jiang)“L"接入(ru)電器元件耐高(gao)壓端(duan)，“E"端接在(zai)電氣耐(nai)壓低壓端。（圖A）

測量(liang)帶有屏(ping)蔽作用的電器耐壓(ya)時如圖B。如測試電纜(lan)時，“L"端(duan)接線(xian)纜的芯(xin)線(xian)，“E"端接外套(tao)層，“G"端接(jie)在中間屏蔽層(ceng)。如果(guo)測試可以穩(wen)定不(bu)需要屏蔽接(jie)入(ru)，一般用圖A測試。

“G"端是用來(lai)保護(hu)屏蔽部(bu)分(fen)或其他不參與測(ce)量的(de)部(bu)分(fen)，以消除表面泄漏(lou)所引起(qi)的(de)誤差。

1. 開啟電源，液晶屏顯示(shi)如(ru)圖

圖1

2. 選擇確認功能鍵（ENTER）進(jin)入電壓選擇

圖2

按(an)左移(yi)(yi)右移(yi)(yi)鍵選擇合適的電壓(ya)

3.完成(cheng)電(dian)壓選擇后選擇確認（ENTER）進入“絕(jue)緣電(dian)阻測試"

圖 3-1

繼(ji)續按(an)確認鍵（ENTER）進(jin)入“正在測(ce)試"，顯示測(ce)試

儀(yi)表處于連續測試電阻(zu)值狀(zhuang)態(tai)，自動計(ji)時，如圖R1在15S測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值為1G，R2在60S測(ce)(ce)試(shi)絕緣電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值為2G，記錄完(wan)(wan)成(cheng)后(hou)在R60秒值測(ce)(ce)試(shi)，進(jin)入到R3，10分(fen)鐘(zhong)測(ce)(ce)試(shi)阻(zu)(zu)值顯示(shi)。測(ce)(ce)試(shi)完(wan)(wan)成(cheng)60秒后(hou)，自(zi)(zi)動(dong)顯示(shi)介(jie)質吸(xi)收比(bi)值，DAR=1.98顯示(shi)，如此類似(si)，計(ji)數(shu)(shu)完(wan)(wan)成(cheng)10分(fen)鐘(zhong)后(hou)顯示(shi)介(jie)質激化指(zhi)數(shu)(shu)PI=。測(ce)(ce)試(shi)完(wan)(wan)10分(fen)鐘(zhong)后(hou)，儀(yi)器自(zi)(zi)動(dong)關閉(bi)高壓(ya)輸出(chu)，自(zi)(zi)動(dong)顯示(shi)放電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)，提示(shi)字符顯示(shi)“放電(dian)(dian)(dian)中"，直(zhi)至放電(dian)(dian)(dian)到殘余電(dian)(dian)(dian)壓(ya)小于50V時(shi)，顯示(shi)“放電(dian)(dian)(dian)完(wan)(wan)"。放電(dian)(dian)(dian)過程(cheng)中不可(ke)以拆卸(xie)測(ce)(ce)試(shi)線。測(ce)(ce)試(shi)過程(cheng)中按確認鍵（ENTER）便進(jin)入停(ting)止測(ce)(ce)試(shi)，提示(shi)是否保(bao)(bao)存。這時(shi)復(fu)位鍵和返回(hui)鍵可(ke)以退出(chu)測(ce)(ce)試(shi)，退到主屏，不保(bao)(bao)存數(shu)(shu)據(ju)。如果需要保(bao)(bao)存數(shu)(shu)據(ju)，按確認鍵（ENTER）進(jin)入數(shu)(shu)據(ju)保(bao)(bao)存。自(zi)(zi)動(dong)保(bao)(bao)存完(wan)(wan)數(shu)(shu)據(ju)，儀(yi)器處于繼續等(deng)待測(ce)(ce)試(shi)狀態，按確認鍵（ENTER）可(ke)繼續重新(xin)計(ji)時(shi)測(ce)(ce)試(shi)！

如測試品長期處于(yu)大電(dian)流，阻值低于(yu)2M時要(yao)考慮是否試(shi)品有局部擊(ji)穿現(xian)象，及(ji)時停止測(ce)試(shi)，判斷是否試(shi)品是損壞的。

6. 按功能(neng)鍵“系統"（SYS）進入

在“查看記錄"下按確認（ENTER）進入

此時(shi)按左移右移鍵分別查(cha)看250組歷史數據，記錄包括測試的內容(rong)和測試時間。

圖 6-1

如上圖表示記錄數據編號(hao)為第(di)一條，測試(shi)15秒時(shi)值(zhi)為(wei)(wei)1G,60S值(zhi)為(wei)(wei)2G，吸(xi)收比(bi)DAR為(wei)(wei)1.99，繼續測(ce)試(shi)記錄值(zhi)到R3為(wei)(wei)3G.測(ce)試(shi)電(dian)壓2.52KV，如果刪(shan)除記錄可以(yi)按確認鍵刪(shan)除，刪(shan)除順序為(wei)(wei)每(mei)次刪(shan)除最后(hou)一條記錄。有測(ce)試(shi)月日時(shi)間記錄。

按左移(yi)右移(yi)鍵切換“查看記錄"數據

在(zai)“修改時間"功能按確認（ENTER）進入

圖 6-2

按(an)左移右(you)移鍵(jian)修(xiu)改內容，確認（ENTER）鍵確定并選(xuan)擇下一個要修改(gai)值。返(fan)(fan)回鍵可以返(fan)(fan)回上級菜單。

復(fu)位完(wan)成設置。

測(ce)試前(qian)請(qing)接好被試品

使用返(fan)回鍵是(shi)返(fan)回上級(ji)目錄菜單，復(fu)位鍵是(shi)儀表(biao)系統復(fu)位。測試異常時請關(guan)機或按復(fu)位鍵