HDZK-10A短路阻抗測試儀性能使用方法

點擊次數：1336 更新時間：2017-07-28

HDZK-10A短路阻抗測試儀性能使用方法

HDZK-10A短路阻抗測試儀是(shi)變(bian)壓器(qi)常規試驗項目中(zhong)的(de)基本項目，通(tong)過比(bi)較變(bian)壓器(qi)受到短路電(dian)流的(de)沖(chong)擊前(qian)后(hou)測得的(de)短路阻抗值(zhi)，可以初(chu)步估計繞組(zu)變(bian)形程(cheng)度。低電(dian)壓短路阻抗試驗是(shi)鑒定(ding)運行中(zhong)變(bian)壓器(qi)受到短路電(dian)流的(de)沖(chong)擊，或(huo)變(bian)壓器(qi)在運輸(shu)和安(an)裝(zhuang)時(shi)受到機械力(li)撞擊后(hou)，檢查其(qi)繞組(zu)是(shi)否變(bian)形的(de)zui直接方(fang)法，它(ta)對于(yu)判(pan)(pan)斷(duan)變(bian)壓器(qi)能(neng)否投入(ru)運行具有重要(yao)(yao)的(de)意義，也是(shi)判(pan)(pan)斷(duan)變(bian)壓器(qi)是(shi)否要(yao)(yao)求進行解體檢查的(de)依(yi)據(ju)之一。

HDZK-10A型(xing)變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)短路(lu)阻抗測(ce)試(shi)(shi)系統是我公(gong)司研制的(de)用(yong)(yong)于(yu)現(xian)場和試(shi)(shi)驗室(shi)條件下(xia)對變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)進行低電(dian)壓(ya)(ya)(ya)短路(lu)阻抗測(ce)量(liang)的(de)儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)體積小，重(zhong)量(liang)輕。儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)內部采(cai)用(yong)(yong)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)電(dian)流同(tong)步交流采(cai)樣及(ji)數字信號處理技(ji)術(shu)，測(ce)量(liang)數據準確。對于(yu)三相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)，儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)可(ke)采(cai)用(yong)(yong)三相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同(tong)時測(ce)試(shi)(shi)和分相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)試(shi)(shi)的(de)方法(fa)對變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)進行測(ce)試(shi)(shi)：三相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同(tong)時測(ce)試(shi)(shi)采(cai)用(yong)(yong)三相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)源，可(ke)直(zhi)接測(ce)量(liang)出三相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)參數；分相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)試(shi)(shi)采(cai)用(yong)(yong)單相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)源，依次測(ce)量(liang)對應相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)后，自(zi)動折(zhe)算出三相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)參數。對于(yu)單相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)，儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)具有單相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)測(ce)試(shi)(shi)功能，可(ke)直(zhi)接測(ce)試(shi)(shi)其阻抗參數。儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)內置不(bu)掉電(dian)存儲器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)，可(ke)長期(qi)存儲測(ce)量(liang)數據。儀(yi)器(qi)(qi)(qi)(qi)(qi)自(zi)帶打印機，大屏幕液晶顯示，全部中文菜單及(ji)操作提(ti)示，操作簡單直(zhi)觀。

1. 短路阻抗的測量使用(yong)方(fang)法(fa)：

用于變壓(ya)(ya)器的(de)低壓(ya)(ya)短路(lu)阻抗實(shi)驗，可(ke)在同(tong)一屏幕下三相(xiang)或單(dan)相(xiang)顯示測量電壓(ya)(ya)、電流、有功功率、阻抗值、阻抗電壓(ya)(ya)百　　分比、電抗值、漏(lou)感值等參數。

2. 空載損耗的測量：
儀(yi)器(qi)顯示三(san)(san)相電(dian)壓、三(san)(san)相電(dian)流、三(san)(san)相功率，儀(yi)器(qi)顯示施(shi)加電(dian)源波形的(de)畸變率，并計算(suan)出變壓器(qi)的(de)空載電(dian)流百分比和空　　載損耗。

3. 負載損(sun)耗的測量(liang)：

顯(xian)示三(san)相電(dian)壓、三(san)相電(dian)流(liu)(liu)、三(san)相功率(lv)，自動計算(suan)出變壓器(qi)的阻(zu)抗電(dian)壓百(bai)分比，折算(suan)到(dao)額定溫度、額定電(dian)流(liu)(liu)下的負載損　　耗，儀器(qi)帶有(you)頻率(lv)折算(suan)功能，能夠在較(jiao)寬(kuan)頻率(lv)范圍內準確(que)測量。

4. 分相測量：
用(yong)于檢查三(san)(san)相(xiang)(xiang)(xiang)變壓器單(dan)相(xiang)(xiang)(xiang)繞組(zu)的缺陷或(huo)現(xian)場無三(san)(san)相(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)源(yuan)的情況。分(fen)相(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)試(shi)采用(yong)單(dan)相(xiang)(xiang)(xiang)電(dian)源(yuan)，分(fen)別測(ce)量出每(mei)一(yi)個單(dan)相(xiang)(xiang)(xiang)數據(ju)　　后，可自動折(zhe)算成(cheng)三(san)(san)相(xiang)(xiang)(xiang)的參數。

超出本儀器測量(liang)范圍時，可故根(gen)據客(ke)戶需(xu)要增設外置電(dian)壓(ya)或電(dian)流(liu)互感器的(de)功能(neng)。這(zhe)需(xu)要客(ke)戶訂貨時特殊說(shuo)明。

5. 零序阻抗的(de)測量(liang)：

零(ling)序阻(zu)抗(kang)的測量適用于高(gao)壓側星形接(jie)線帶中性點(dian)的變壓器，儀器可記錄(lu)零(ling)序阻(zu)抗(kang)、零(ling)序電抗(kang)、零(ling)序電感、阻(zu)抗(kang)角、零(ling)　　序電阻(zu)。

6. 儀器大屏幕液晶顯(xian)示，可(ke)在同一(yi)屏幕顯(xian)示三(san)相(xiang)(xiang)電(dian)(dian)壓、三(san)相(xiang)(xiang)電(dian)(dian)流(liu)、三(san)相(xiang)(xiang)功率、三(san)相(xiang)(xiang)阻抗值(zhi)、三(san)相(xiang)(xiang)阻抗電(dian)(dian)壓百分比、三(san)　　相(xiang)(xiang)電(dian)(dian)抗值(zhi)、三(san)相(xiang)(xiang)漏感值(zhi)、三(san)相(xiang)(xiang)平均(jun)電(dian)(dian)壓、平均(jun)電(dian)(dian)流(liu)、三(san)相(xiang)(xiang)總功率和相(xiang)(xiang)關數據。儀器采用(yong)中文(wen)菜(cai)單，中文(wen)提(ti)示，操作簡　　單。

7. 儀器備(bei)有U盤(pan)接口，可(ke)隨(sui)時將儀器內(nei)存(cun)儲的數(shu)據(ju)導入U盤(pan)，儀器測試時可(ke)直接存(cun)入U盤(pan)。

8. 內置存儲器(qi)，掉電(dian)不丟失，儀(yi)器(qi)可存儲200組數據。

9. 系統自(zi)帶打(da)印機，可打(da)印測試數據，也可打(da)印內存瀏覽數據。

10. 日(ri)歷、時(shi)鐘功能(neng)，可(ke)進行(xing)時(shi)間校準。